LED/照明&驅動器測試解決方案|上海芮測電子科技有限公司

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	Model 63110A 63113A 63115ALED 仿真負載	Model 63110A 63113A 63115ALED 仿真負載，LED driver為電流源，因此有一可輸出的電壓范圍及一固定的輸出電流。在LED driver的測試上，一般常使用的方式有下列幾種：1、使用真實電阻當負載。2、使用傳統電子負載操作于定電阻(CR)模式或定電壓(CV)模式。3、使用真實LED串聯當負載。/OL>但是這些測試方式都有其缺點，無法完全適合LED driver的測試需求。由此生產出Model 63110A 63113A 63115ALED 仿真負載。
	Model 61500 series可編程交流電源	Chroma 61500系列交流電源供應器，樹立了業界高性能AC電源產品的新標準。Model 61500 series可編程交流電源可提供強大的使用功能，如電網干擾模擬，可編程輸出阻抗，全方位的測量功能，合成波形與IEC標準測試軟件。因擁有以上特點使得61500系列適合應用于一般商業產品，電力電子，航空電子設備，*與IEC標準測試的開發和運用，并且從實驗桌上測試到大量生產單位皆可適用。 Model 61500 series可編程交流電源提供用戶不同容量的單相輸出產品，從 500VA到4000VA。不論是在研發設計，產品驗證或量產測試等，都有完善的應用選擇。
	Model 8491 LED電源自動測試系統	Model 8491 LED電源自動測試系統——致茂電子成立于1984年，以自有品牌”Chroma”行銷全球，為精密電子量測儀器、自動化測試系統、制造資訊系統與全方位Turnkey測試及自動化解決方案供應商，主要產品包括LED 、太陽能、鋰電池、電動車、半導體/IC、雷射二極體、平面顯示器、視頻與色彩、電力電子、被動元件、電氣安規、熱電溫控、自動光學檢測、以及制造資訊系統等測試解決方案。Model 8491 LED電源自動測試系統更多內容請查看詳細說明。
	Model 58221-200-2LED 電性測試模組	Model 58221-200-2LED 電性測試模組是特別針對LED所設計之全方位電性測試機，主要滿足所有LED電性測試所需之功能。針對High voltage (HV)部份，58221- 200-2 提供至±200V/±100mA之高精準度電流源，而High Power (HP) 部份，Model 58221-200-2LED 電性測試模組提供±10V/±2A之高精準度電流源。另外58221- 200-2設計為LED單機測試機，使用者除了可單機操作以外也可利用USB介面與其他設計進行整合與同步量測。
	Model 58212-CLED Mapping Probe Tester	The Chroma 58212-C features an automated LED wafer/chip probe tester, delivering fast and accurate LED measurements with test times less than 125ms *1. The system can be modified to support different LED structures including Lateral, Vertical, and Flip Chip designs. Integrated scanners provide autonomous wafer mapping to guarantee precision testing. The patented probe head prevents device scratch
	Model 58173-TCLED Chip Level Tester	The LED Test System Model 58173-TC focuses on LED wafer/chip characteristics analysis and provides optimized test performance. Its test items include a variety of voltage/ current output measurement, optical power measurement, and spectrum analysis. On measurement, several electrical and optical characteristics analysis can be achieved at a time within 25 ms, and its electrical measurement support
	Model 54100 series致冷芯片溫度控制器	Model 54100 series致冷芯片溫度控制器(TEC) 致冷晶片元件模組是一種使用電流控制熱流的固態元件，它提供快速的溫度響應和超高溫穩定性，是非常有效率的小型溫度控制器； TEC 溫度控制器是非常具環保性且簡潔，不像傳統壓縮機一樣需要使用機械(馬達)零件或冷(熱)媒的消耗。 Model 54100 series致冷芯片溫度控制器擁有很好的溫度監測功能，它允許兩個T-type熱電偶輸入，控制器內部的冷端溫度穩定度可達0.001℃，整體系統的性能可達0.01℃溫度解析度和高穩定性。TEC 驅動控制采用濾波型PWM架構輸出，相較于傳統PWM，不僅可提供更高的功率輸出，并調變PWM電流趨近直流電流輸出，這是一個很重要的特點，可避免量測敏感元件時的電磁干擾。
	Model 51101 51101C series溫度多功能記錄器	Model 51101 51101C series溫度多功能記錄器能精準量測溫度、電壓、電流等基本物理量，無論一般應用研發、量產、制程管理均能廣泛應用于不同產業，所需的通道數可由單一通道至數百個通道，例如溫度爐需針對腔體不同位置確認溫度的均勻性，確保有效完成烘烤過程；車用電池需個別量測池芯之電壓與溫度，確保其使用**；交換式電源供應器需量測主側、二次側的電壓電流，以及高功率轉換之溫度；化學反應過程需持續監控多種反應成分之氣壓、流速與溫度等，長時間記錄儲存資訊不只反應量的大小，也反應與時間的關聯性，因此Model 51101 51101C series溫度多功能記錄器為一不可或缺的分析工具。
	Model 58620激光半導體特性測試機	Model 58620激光半導體特性測試機：激光半導體為高科技產品，價格不斐，多數使用于光通訊/醫療/國防等領域，并與人類社會息息相關。傳統的激光半導體因價格高昂，可靠性要求程度極高，需要大量的人工與時間來進行光路調整(Alignment)測試與封裝后的檢測。致茂Model 58620激光半導體特性測試機為一全新概念機種，專為激光半導體(Laser Diode)所打造設計，搭配自動化特性檢測All-In-One設計概念，可供不同的測試項目同時進行檢測；搭配高容量的載具設計，可供多顆激光芯片(Chip level)進行大量測試；另外藉由光學定位輔助(AOI)，可提升自動化檢測的速度與可靠性；高穩定性的溫控平臺設計，可讓研發人員**地了解激光半導體特性與溫度的關系。
	影像式光源測角儀	Near-field luminous intensity and color distribution measurement optimized for LEDs Applications Measurement of near-field luminous intensity distribution for LEDs and small light sources Measurement of near-field chromaticity for LEDs and small light sources Creation of accurate and efficient ray sets for optical design

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